低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX
維持安定之高品質,依據世界唯一之四探針理論之高精度之阻抗率計 操作簡單,現場使用攜帶型方便,用於生產技術、品質管理
利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應, Pin間 5mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm
不均一樣品用 Pin間 5mm,Pin尖 Ø 2×4支,壓力 240g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm
小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm
微小樣品用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm
Silicone wafer用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支
大樣品用 Pin間 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支
標準樣式 Pin間 10mm,Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支
大樣品用 Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支
ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)
PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)
TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)