粉體阻抗測定系統 MCP-PD51

﹢用於研究開發、品質管理第一線，執行粉體之物性管理
﹢與阻抗率計Loresta-GP,Hiresta-UP連接，以測定廣範圍之粉體之低阻抗、高阻抗
﹢樣品的交換、清掃簡單、可採一觸式著離探頭
﹢各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積
﹢測定及數據、備有達執行圖形化之軟體以供選購

阻抗率自動測定系統

測定演算、數據處理，3次元圖形輸出完全自動化，可應用至基板尺寸650×650mm之長方形、圓形樣品，"邊緣之影響"被補正，依[MCC方法]測定例