低阻抗率計 MCP-T610型 (桌上型)
Loresta-GP

維持安定之高品質，依據世界唯一之四探針理論之高精度之阻抗率計
單體使用系統構築，符合JIS-K7194智慧型，用於生產技術、品質管理、研究開發

導電性油漆、導電性漿糊、導電性塑膠、導電性橡膠、導電性薄膜、靜電材料、EMI屏蔽材料、導電纖維、導電陶瓷、半導體材料、LCD、TFT、ITO玻璃、晶元、手機外殼、手提電腦外殼、磁碟片…等

利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，
尺寸 35^W×20^L×35^Hmm

ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》

不均一樣品用
Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支，
尺寸 35^W×20^L×35^Hmm

PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》

小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm

QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》

微小樣品用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm

NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》

Silicone wafer用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支

BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》

大樣品用
Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支

TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》

Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支

AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》

標準樣式
Pin間 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支

BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》

大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支

MCP-TRPS 探頭檢驗片

PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-TRTF 探頭檢驗片

TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之)

MCP-STO3 絕緣板UFL

尺寸 300^W×200^L×10^Hmm